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        科研低溫恒溫恒濕試驗箱

        簡要描述:

        科研低溫恒溫恒濕試驗箱
        模擬環境當中的低溫,高溫,高濕等,用于測試IC芯片,集成電路芯片,國產芯片,U盤芯片等各種何各樣的芯片在惡劣的環境所受到的影響。

        型號:THD-150PF 瀏覽量:792
        更新時間:2023-10-25 是否能訂做:是

        科研低溫恒溫恒濕試驗箱

        控制系統:

        2. 實時監控(監控控制器實時數據,信號點狀態,實際輸出狀態)。

        3. 曲線記錄功能3.3.1.控制器可存儲600天內歷史數據(24小時運行狀態下,記錄間隔1min以上,溫濕度數據同時記錄時),且可回放上傳的控制內歷史數據曲線。

        4.可通過隨機贈送軟件將導出來的文件在電腦查看或轉成EXCEL格式。

        5.儀表配備RS232/485端口。

        7.具有自動演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為穩定.

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        科研低溫恒溫恒濕試驗箱

        可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或相關行業的實驗部門提供一個模擬環境,為測試數據的準確性和一致性(可重復)提供條件.具有簡單的操作性能和可靠的設備性能,先進便捷操作的計測裝置,溫濕度控制器,采用先進的中文液晶顯示畫面觸摸屏,可進行各種復雜的程序設定,程序設定采用對話方式,操作簡單、迅速。

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        制冷系統

        ★降低測試成本,增長壽命,減低故障率。

        ★制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。
        ★冷凍系統采用單元或二元式低溫回路系統設計。 
        ★采用多翼式送風機強力送風循環,避免任何死角,可使測試區域內溫濕度分布均勻。
        ★風路循環出風回風設計,風壓風速均符合測試標準,并可使開門瞬間溫濕度回穩時間快。
        ★升溫、降溫、加濕系統*獨立可提


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