標(biāo)準(zhǔn)版溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱

標(biāo)準(zhǔn)版溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱

參照標(biāo)準(zhǔn)

本試驗(yàn)箱符合GB/T2423.1 低溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.2高溫試驗(yàn)方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法。
GJB 150.3高溫試驗(yàn)；GJB 150.4 低溫試驗(yàn)；
GB10588-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)版溫度循環(huán)試驗(yàn)機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱

 高溫槽溫度范圍：+60 ~200℃.

低溫槽溫度范圍：-10℃~-70℃

實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度：高溫 +60～150℃.低溫 (-10～ -40℃)

高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10S

高低溫恢復(fù)時(shí)間：3~5min（非線性空載下）

控制精度：溫度±0.2℃（指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測值之差）

溫度波動(dòng)度：≤0.5℃（溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測高溫度和低溫度之差的一半）

溫度誤差：≤±1℃（工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點(diǎn)實(shí)測的平均溫度）

溫度均勻度：≤2.0℃（溫度均勻度為每次測試中實(shí)測高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）

預(yù)熱區(qū)升溫速度： ≥3℃/min（非線性）

預(yù)冷區(qū)降溫速度： ≥2℃/min（非線性）

執(zhí)行與滿足的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GJB360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)

SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗(yàn)箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗(yàn)箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

溫度范圍：-40℃---10℃~60℃-150℃/-70℃---10℃~60℃-150℃

數(shù)碼測試高低溫廠家箱|50L冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備|兩箱式溫沖測試箱產(chǎn)品結(jié)構(gòu)：

試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)形式：試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱，位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜（系統(tǒng)）所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀，制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi)，以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響，同時(shí)便于機(jī)組的安裝和，電器控制面板置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。