半導體恒溫恒濕環境測試試驗設備廠家可程式恒溫恒濕試驗箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗環境，并滿足相關標準對試驗箱的要求，主要適用于電工、電子產品整機及零部件進行耐寒試驗、溫濕度變化或劇變條件下的適應性試驗;特別適用于進行電子、電工產品的環境模擬溫濕度試驗。
| 型號:SMD-1000PF | 瀏覽量：645 |
| 更新時間：2023-10-29 | 是否能訂做：是 |
半導體恒溫恒濕環境測試試驗設備廠家
產品技術參數：
1、工作室尺寸：1000*1000*1000MM；
2、外形尺寸約：1250*1750*1910MM；
3、溫度范圍： -60℃ ～ 150℃；
4、溫度波動度：≤±0.5℃；
5、溫度均勻度：≤±1℃；
6、溫度偏差：≤±2℃；
7、升降溫速率：
從 20～-40℃，約60min
從 20―100℃，約40min
8、濕度范圍：20%―98%R.H（AT 25℃～ 85℃）
9、濕度誤差： 2/-3%R.H（75%R.H以上），±5% R.H（75%R.H以下）
10、風速：1.7～ 2.5m/s；
以上指標均在環境溫度≤25℃，常壓，空載、無負荷條件下、距箱體內壁1/6空間內測試測得；
11、功率：約3.5Kw；
12、電源：220V±10%V；50Hz；
滿足相關標準及試驗方法：
GB/T2423.22-87Nb GJB1032-90 MIL-STD-2164/(E/C)
GB/T2423.4-93 GB/T2423.34-86 GJB150.9-86
半導體恒溫恒濕環境測試試驗設備廠家
一、概述
本系列產品具有模擬大氣環境中溫度、濕度條件。主要是針對于電工、電子產品，以及其元器件，以及其它材料在高溫、濕度、低溫綜合環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。用于產品設計、改進、鑒定及檢驗等環節。
二、依據標準
《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度 濕度組合循環試驗設備》GB 5170.18-2005
《溫度濕度組合循環試驗》GBT2423[1].34-2005
《濕熱試驗箱技術條件》GBT 10586-2006
《高溫試驗箱技術條件》GB 11158-2008
《低溫試驗箱技術條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗箱技術條件》GB 10592-2008
《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》GBT 2423.2-2008
